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Couloscope CMS2電位差臺(tái)式測(cè)厚儀*現(xiàn)貨
更新時(shí)間: | 2024-09-27 |
報(bào) 價(jià): |
Couloscope CMS2電位差臺(tái)式測(cè)厚儀*現(xiàn)貨CouloScope CMS(庫(kù)侖測(cè)量系統(tǒng))使用庫(kù)侖方法測(cè)量鍍層厚度。新的設(shè)計(jì)中配備了一個(gè)大的,易讀取的液晶顯示器,直觀的菜單指引系統(tǒng),新的可以通過泵控制自動(dòng)注液和清空測(cè)量槽的V18測(cè)量臺(tái),以及SPC統(tǒng)計(jì)能力。該儀器理想的適用于測(cè)量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度,包括多鍍層。使用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測(cè)試方法的場(chǎng)合。
Couloscope CMS2電位差臺(tái)式測(cè)厚儀*現(xiàn)貨的詳細(xì)資料:
品牌 | Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車 |
Couloscope CMS2電位差臺(tái)式測(cè)厚儀*現(xiàn)貨
菲希爾COULOSCOPE® CMS2庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度儀
COULOSCOPE® CMS2 和 COULOSCOPE® CMS2 STEP根據(jù)庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳電位差
庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量,現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。
使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測(cè)量印刷線路板上剩余純錫的厚度
COULOSCOPE® CMS2 CMS2可以測(cè)量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度,包括多鍍層結(jié)構(gòu); 它的工作原理是根據(jù)陽極溶解的庫(kù)侖法 (DIN EN ISO 2177)。 簡(jiǎn)單的操作和菜單化的操作指導(dǎo)使CMS2成為電鍍行業(yè)生產(chǎn)監(jiān)控和質(zhì)量檢驗(yàn)理想的解決方法。設(shè)備為不同的鍍層結(jié)構(gòu)配備了近100個(gè)預(yù)留的應(yīng)用程式(例如,鐵上鍍鋅,黃銅上鍍鎳), 以及各種電解速度(例如1, 2, 5, and 10 μm/min)。這些應(yīng)用程式適用于多鍍層系統(tǒng)。
COULOSCOPE® CMS2 STEP CMS2 STEP 的特征是STEP測(cè)試功能(同時(shí)測(cè)定厚度和電位差)。 在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化STEP測(cè)試 (根據(jù)ASTM B764-94和DIN 50022)。鍍層厚度根據(jù)庫(kù)侖法得出, 而電位差則由一個(gè)鍍有AgCl的銀電極得到。
COULOSCOPE® CMS2的特征
大尺寸高分辨率的彩色顯示器
簡(jiǎn)單的操作和圖示的用戶指導(dǎo)
使用V18支架實(shí)現(xiàn)半自動(dòng)化測(cè)量
電解速度和測(cè)量面積的簡(jiǎn)單選擇 (0.1 ----- 50 μm/min) 和(0.6 ----- 3.2 mm Ø)
電壓曲線圖形顯示
圖形和統(tǒng)計(jì)分析 多語言和計(jì)量單位可供選擇
COULOSCOPE® CMS2 STEP的特殊功能
同時(shí)測(cè)量鍍層厚度和電位差
銀參比電極的簡(jiǎn)單準(zhǔn)備
可調(diào)節(jié)的電解電流
系統(tǒng)概述
一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)包括COULOSCOPE® CMS2或CMS2 STEP和一個(gè)有測(cè)量槽的支架(例如:STEP測(cè)量槽)。各種測(cè)量臺(tái)設(shè)計(jì)適合不同的應(yīng)用。
可選配件
大量的可選配件使測(cè)量工作更便利,確保了安全的儲(chǔ)存并為固定工件提供輔助。
COULOSCOPE CMS2 STEP 測(cè)量: 帶有球狀支撐和可旋轉(zhuǎn)支撐板的V18支架。測(cè)量槽存放架可存放3個(gè)100ml的實(shí)驗(yàn)室瓶。
廣泛適用的測(cè)量支架 V18 和的測(cè)量支架V27 測(cè)量線材上的鍍層厚度
固定工件的臺(tái)虎鉗,也同樣可以安裝在V18和V24的支撐板上
校準(zhǔn)
校準(zhǔn)時(shí)會(huì)產(chǎn)生一個(gè)修正系數(shù) 。這是由于測(cè)量槽密封墊子的制造公差、鍍層密度的變化、合金成分的變化,需要該修正系數(shù)。
作為測(cè)量鍍層厚度*簡(jiǎn)單的方法之一,庫(kù)侖法可以用于各種鍍層組合。 尤其對(duì)于多鍍層結(jié)構(gòu), 當(dāng)允許破壞性測(cè)量時(shí),它提供了一個(gè)比X射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。
應(yīng)用
強(qiáng)大并且用戶友好的COULOSCOPE CMS2適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品的質(zhì)量檢驗(yàn)。
很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可以用CMS2簡(jiǎn)單快速地測(cè)量。這個(gè)方法為任何金屬鍍層提供了**的測(cè)量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm內(nèi), 很多材料不需要預(yù)設(shè)定;基材組成和幾何形狀對(duì)于測(cè)量都是無關(guān)緊要的。
*常見的應(yīng)用之一就是測(cè)量線路板上剩余的純錫,以確保可焊性。多鍍層例如 Cr/ Ni/Cu在鐵或者塑料(ABS)基材上,經(jīng)常被用于高品質(zhì)的浴室用品,也可以用這個(gè)方法進(jìn)行測(cè)量。
測(cè)量原理
這個(gè)系列儀器根據(jù)DIN EN ISO 2177標(biāo)準(zhǔn)的庫(kù)侖法。 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層,通過在控制電流條件下電解腐蝕--------實(shí)際上就是電鍍的反過程。所載入的電流與要?jiǎng)冸x的鍍層厚度是成正比的,假如電流和剝離面積保持不變,鍍層厚度與電解時(shí)間就是成正比的關(guān)系。
測(cè)量槽
可比作微型電解缸------被用來剝離鍍層。 測(cè)量面積由裝在測(cè)量槽上的墊圈尺寸來決定。對(duì)不同的金屬采用不同配方的電解液。通過載入電流開始電解過程。 電解過程由COULSCOPE儀器的電子部分控制, 用一個(gè)泵攪拌電解液來使電解區(qū)域電解液平穩(wěn)腐蝕,保證電解液*佳利用。 根據(jù)測(cè)量區(qū)域的大小,各種直徑的墊圈 可供選擇。
STEP Test是在允許腐蝕的情況下用來同時(shí)測(cè)量電位差和多層鎳的鍍層厚度,該方法是這個(gè)應(yīng)用領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)。
應(yīng)用
多層鎳鍍層的品質(zhì)控制需要能在電鍍完成后立刻檢查厚度和電位差的儀器。 COULOSCOPE CMS2 STEP 就是為這個(gè)目的而設(shè)計(jì)的,它操作簡(jiǎn)單,參比電極使用起來也不復(fù)雜,非常適合電鍍工廠苛刻環(huán)境下的這種應(yīng)用。
電鍍鎳層用作電解保護(hù)和提高機(jī)器表面屬性,如硬度等。
特別是汽車工業(yè)中,電鍍鎳部件在防腐蝕方面要滿足很高的要求。單一鎳層無法滿足該要求。因此,目前正在開發(fā)非常復(fù)雜的鍍層系統(tǒng),其中包含兩層、三層甚至四層鍍鎳層,還有鉻或銅鍍層。
測(cè)量原理
STEP Test 是(Simultaneous Thickness and Electrochemi- cal Potential determination)(同時(shí)測(cè)量鍍層厚度和化學(xué)電位差)的簡(jiǎn)寫,是已經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)化很久的測(cè)量方法。它可以同時(shí)測(cè)量各鍍層厚度和多層鎳系統(tǒng)中兩層之間的電化學(xué)電位差。 厚度測(cè)量時(shí)用庫(kù)侖法來測(cè)量,電位差通過外面鍍一層AgCl的銀參比電極來測(cè)量。電壓曲線可以顯示在屏幕上,鍍層厚度和電位差可以在圖上讀出。
為了獲得可以比較的穩(wěn)定電位差測(cè)量結(jié)果,參比電極到工件的距離必須始終保持不變。這個(gè)問題通過特殊的測(cè)量槽得到解決。
銀參比電極被設(shè)計(jì)成一個(gè)圓錐形的環(huán)狀電極,并作為測(cè)量槽底部的外殼與測(cè)量槽蓋連接。測(cè)量槽的設(shè)計(jì)保證了參比電極與工件之間的距離始終不變。
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