電位差測厚儀Couloscope CMS2 STEP的詳細資料：

電位差測厚儀Couloscope CMS2 STEP

廣泛應用的標準支架V18和支架V27用于測量導線上涂層的厚度

COULOSCOPE CMS STEP 雙層鎳鍍層測量版本
Couloscope CMS2 STEP 電解測厚儀
4種不同類型的測量臺適合于測量各種種類的被測物體。

Couloscope CMS2 STEP 庫侖測電位差測厚儀

PCB涂層厚度測量設計用于測量任何金屬涂層的厚度，如任何基材上的多層。 該器件通過陽極溶解（DIN EN ISO 2177）根據庫侖法進行工作。 易于操作和菜單支持的操作員方向使得該設備非常適用于電鍍領域的生產監(jiān)控和端部檢測。
該機器具有近100種預定義的應用，用于測量不同的涂層系統(tǒng)（例如鐵上的鋅，黃銅上的鎳）和去鍍速度（例如1,2,5和10m / min）。 這也可以組合起來用于測試多層系統(tǒng)。
強大和用戶友好的PCB涂層厚度測量計是生產監(jiān)控和進入檢測的理想選擇。

典型應用：
電鍍緊固件
測試印刷電路板上殘留的純錫含量
鍍鉻浴室配件
測量常見的單相以及雙相涂層，如鐵上的ZN或銅上的SN / NI
金屬涂層的測量厚度品種為0.05 - 50m，不需要預先設置幾種材料; 基底組成以及幾何形狀也與測量過程無關
測量印刷電路板上純錫的剩余部分，以確?？珊感?br />多層涂層，如鐵/塑料（abs）基板上的CR / NI / CU

電位差測厚儀Couloscope CMS2 STEP

使用5 x 5個單獨測量的測試區(qū)域校準測量系統(tǒng)的標準

作為測量鍍層厚度zui簡單的方法之一，庫侖法可以用于 各種鍍層組合。 尤其對于多鍍層結構， 當允許破壞性測 量時，它提供了一個比 X 射線更經濟的替代方法。 

很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 CMS2 簡單快速地測量。這個方法為任何金屬鍍層 提供了的測量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內， 很多 材料不需要預設定；基材組成和幾何形狀對于測量都 是無關緊要的。 
 
zui常見的應用之一就是測量線路板上剩余的純錫，以確 保可焊性。多鍍層例如 Cr/ Ni/Cu 在鐵或者塑料（ABS） 基材上，經常被用于高品質的浴室用品，也可以用這個 方法進行測量

COULOSCOPE CMS基本配置：
儀器：            Couloscope CMS
測量臺：          V24、V26、V18 等
電解液：          F1 ～ F22
COULOSCOPE CMS特征：
標準：DIN EN ISO 2177 ； ASTM B504

模擬輸出： 0 ～ -18V
輸入阻抗： ＞ 2 KΩ
工作溫度： 10 ℃ ～ 40 ℃
儀器重量： 6 kg 
電源： AC 220 V ，50-60 Hz；zui大功耗 ≤ 85 VA
尺寸： 350W * 140H * 200D  mm