COULOSCOPE CMS2電解脫鍍測厚儀（破壞性）的詳細資料：

COULOSCOPE CMS2電解脫鍍測厚儀（破壞性）

COULOSCOPE CMS2的儀器通過電解去除層來測量涂層厚度。特別地，庫侖法可以用于地確定任何種類的基底上的多層。部署CSM2 STEP版本，用于單層標(biāo)準(zhǔn)的STEP測試測量，并檢測潛在的差異，例如在鎳多層質(zhì)量控制中。

特征：
使用高精度電解脫鍍技術(shù)（庫侖法）測量多層
易于操作的顯示和圖形支持的用戶指導(dǎo)
普遍適用于金屬和非金屬基材的測量，也適用于多層涂料
通過全面的附件組合適應(yīng)具體要求
應(yīng)用：
金屬和非金屬基材上的任何金屬涂層
單層和多層涂層厚度測量
特別適用于通過STEP Test測量鎳多層
適用于0.05μm至40μm的涂層厚度

*：CuZn（黃銅），符合ISO推薦的術(shù)語
**：無多次使用電解液
NC：非金屬
1：這些測量應(yīng)用無法使用06型測量電池（支架V18）進行測量，
2：對于這些測量應(yīng)用，電解液的多次使用被限制為40μm（1.57密耳）的總可剝離涂層厚度。
3：為了測量這些應(yīng)用，需要支架V27
4：為了測量這些應(yīng)用，儀器型號COULOSCOPE CMS2 STEP是必需的

COOLOSCOPE CMS2STEP：

603-546測量單元STEP V24 / 26
603-545測量單元STEP V18，基本STEP
支架V18 602-843測量電池存儲支架
602-837測量電池類型0.6
602-839軸承殼支撐臂
602-841磁座支撐臂
602-840球接試樣支架
支架V24和V26 600-802瓶架
600-854磁座
600-790帶集成電極的特殊測量單元
電解液適用于各種電解質(zhì)的測量應(yīng)用。
校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)有各種標(biāo)準(zhǔn)可用于校準(zhǔn)。