Fischer測(cè)厚儀IsoScope FMP30膜厚儀的詳細(xì)資料：

Fischer測(cè)厚儀IsoScope FMP30膜厚儀

•  Module SIGMASCOPE®/PHASCOPE® 2 with probe ESL080V for measuring the Cu throughconnection 

•  Module SIGMASCOPE®/PHASCOPE® 1 with probe ESD20 Cu for measuring the copper coatings under solder resist coatings

•  Module SR-SCOPE® with probe ERCU-D10 for measuring the copper coating on multilayers without interference in the measuring result from copper coatings on inner layers

•  Module PERMASCOPE® with probe FTA3.3-5.6HF for measuring the solder resist coatings and protective coatings on thin copper intermediate layers and probe FKB10-OD for measuring the total PCB thickness

Fischer測(cè)厚儀IsoScope FMP30膜厚儀：可存儲(chǔ)高達(dá)20,000個(gè)數(shù)據(jù)•數(shù)據(jù)zui多可分為 4000個(gè)數(shù)據(jù)組•提供的電腦軟件FISCHER;具有以下功能：傳輸和保存測(cè)量值，全面的統(tǒng)計(jì)和圖形化評(píng)估，簡(jiǎn)便生成并打印個(gè)人檢測(cè)報(bào)告。

介紹：

• 根據(jù)磁感應(yīng)法和/或電渦流法對(duì)涂層進(jìn)行非破壞性測(cè)量LI>
• 自動(dòng)識(shí)別基材（FMP40）
• 可存儲(chǔ)高達(dá)20,000個(gè)數(shù)據(jù)
• 可建立多達(dá)100個(gè)應(yīng)用程式
• 數(shù)據(jù)zui多可分為 4000個(gè)數(shù)據(jù)組
• 以帶有高斯曲線的直方圖圖形化地表現(xiàn)測(cè)量結(jié)果
• 可以輸入過程公差極限并計(jì)算相應(yīng)的工藝能力指數(shù)Cp和Cpk
• 當(dāng)超出公差極*，有聲音和視覺警告信號(hào)
• 提供的電腦軟件FISCHER DataCenter®具有以下功能：傳輸和保存測(cè)量值，全面的統(tǒng)計(jì)和圖形化評(píng)估，簡(jiǎn)便生成并打印個(gè)人檢測(cè)報(bào)告?

探頭選擇

ISOSCOPE FMP30氧化膜測(cè)厚儀常用渦流探頭：FTA3.3H，訂貨號(hào)：604-142，測(cè)量范圍：0 - 1200 μm，測(cè)量精度：0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～8000μｍ，± 0.5 ％；800～1200μｍ，< 2.5% 

DELTASCOPE FMP30涂層測(cè)厚儀常用磁性探頭：FGAB1.3，訂貨號(hào)：604-141，測(cè)量范圍：0 - 2000 μm（45 mils）。測(cè)量精度：0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～8000μｍ，± 0.5 ％；800～1200μｍ，< 2.5%