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菲希爾多功用測(cè)厚儀是工業(yè)和科研使用廣泛的測(cè)厚儀器
點(diǎn)擊次數(shù)：1750 更新時(shí)間：2019-01-15 打印本頁(yè)面 返回
菲希爾多功用測(cè)厚儀是工業(yè)和科研使用廣泛的測(cè)厚儀器
菲希爾多功用測(cè)厚儀廣泛應(yīng)用于各種涂膠層如水溶性膠層以及各種PE、PVC、樹脂膜等材料厚度的在線檢測(cè)，采用高精度紅外反射探頭，精密“口”字形掃描機(jī)構(gòu)連續(xù)對(duì)被測(cè)物進(jìn)行寬度方向上的左右掃描，工業(yè)用計(jì)算機(jī)采集數(shù)據(jù)，具有數(shù)據(jù)處理、掃描測(cè)量、任意點(diǎn)定點(diǎn)測(cè)量、圖形曲線顯示、偏差 報(bào)警、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、查詢等功能。
菲希爾多功用測(cè)厚儀對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)國(guó)家和標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層，覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的*手段。為使產(chǎn)品化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)覆層厚度有了明確的要求。
覆層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法、光截法、電解法、厚度差測(cè)量法、稱重法、X射線熒光法、β射線反向散射法、電容法、磁性測(cè)量法及渦 流測(cè)量法等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，菲希爾多功用測(cè)厚儀適用于抽樣檢驗(yàn)。X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，但裝置復(fù)雜昂貴，測(cè)量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。
隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測(cè)厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步，測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高。菲希爾多功用測(cè)厚儀適用范圍廣，量程寬、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉，是工業(yè)和科研使用廣泛的測(cè)厚儀器。
菲希爾多功用測(cè)厚儀采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。菲希爾多功用測(cè)厚儀利用磁感應(yīng)原理，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上，如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大，當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí)，儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。
