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EPK上海代理-MiniTest720測(cè)厚儀
更新時(shí)間: | 2024-09-26 |
報(bào) 價(jià): |
EPK上海代理-MiniTest720測(cè)厚儀。在對(duì)精度要求不高的條件下,您可以短時(shí)間測(cè)量大量數(shù)值;也可以只測(cè)量少數(shù)幾個(gè)數(shù)值,但要求精度很高,您只需選擇相應(yīng)的模式就可以做到。測(cè)量值超過您所設(shè)定的極限值時(shí),儀器會(huì)報(bào)警,保證您即使在快速模式下也不會(huì)錯(cuò)過任何信息。儀器具備聲、光報(bào)警,在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示,超過極限值則用紅色LED燈提示。
EPK上海代理-MiniTest720測(cè)厚儀的詳細(xì)資料:
品牌 | ElektroPhysik/德國(guó)EPK | 價(jià)格區(qū)間 | 5千-1萬 |
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EPK上海代理-MiniTest720測(cè)厚儀
篤摯儀器(上海)有限公司
:張磊
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EPK上海代理-MiniTest720測(cè)厚儀
增加了測(cè)量速度設(shè)置選項(xiàng)
MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀可以讓您輕松變換測(cè)量需求。在對(duì)精度要求不高的條件下,您可以短時(shí)間測(cè)量大量數(shù)值;也可以只測(cè)量少數(shù)幾個(gè)數(shù)值,但要求精度很高,您只需選擇相應(yīng)的模式就可以做到。測(cè)量值超過您所設(shè)定的極限值時(shí),儀器會(huì)報(bào)警,保證您即使在快速模式下也不會(huì)錯(cuò)過任何信息。儀器具備聲、光報(bào)警,在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示,超過極限值則用紅色LED燈提示。
使用簡(jiǎn)單方便
MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀按照人體工學(xué)設(shè)計(jì),外形很適合人手掌握。為了質(zhì)量控制和檢驗(yàn)的靈活性,MINITEST 740可以輕易由內(nèi)置探頭變換為外置探頭,方便測(cè)量難以到達(dá)的部位。MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀可以滿足您所有涂層測(cè)量需求:如果您想單手測(cè)量,可以選擇內(nèi)置探頭的MINITEST 720。MINITEST 730則是外置探頭的。所有型號(hào)都配有超大、背光的顯示屏,顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn),方便您讀取數(shù)據(jù)。
預(yù)設(shè)選項(xiàng)節(jié)省您的時(shí)間和金錢
所有MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀的探頭都可以對(duì)不規(guī)則形狀表面做出補(bǔ)償。當(dāng)您在無涂層基體上校零時(shí),整個(gè)量程范圍都在這個(gè)特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進(jìn)行校準(zhǔn)。為節(jié)省您的時(shí)間和金錢,儀器預(yù)設(shè)了大量校準(zhǔn)方法,適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出廠校準(zhǔn),零點(diǎn)校準(zhǔn),兩點(diǎn)校準(zhǔn)和三點(diǎn)校準(zhǔn)。另外,還有針對(duì)不同粗糙程度的粗糙度校準(zhǔn)。FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體類型避免操作者犯錯(cuò)。為適應(yīng)銷售需要,MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀滿足各種標(biāo)準(zhǔn):SSPC-PA2、ISO、瑞典(SS184160)、澳大利亞(AS 3894.3)、ISO 19840和ASTM D7091(以前的D1186和D1400)。
SIDSP探頭
探頭 特性 | F1.5,N0.7,F(xiàn)N1.5 | F2 | F5,N2.5,F(xiàn)N5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
測(cè)量范圍 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
使用范圍 | 小工件,薄涂層,跟測(cè)量支架一起使用 | 粗糙表面 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛 | 厚涂層 | ||
測(cè)量原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) |
信號(hào)處理 | 探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理(SIDSP) | |||||
度 | ±(1μm+0.75%讀值) | ±(1.5μm+0.75%讀值) | ±(5μm+0.75%讀值) | |||
重復(fù)性 | ±(0.5μm+0.5%讀值) | ±(0.8μm+0.5%讀值) | ±(2.5μm+0.5%讀值) | |||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
zui小曲率半徑(凸) | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
zui小曲率半徑(凹,外置探頭) | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
zui小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭) | 30mm | 30mm | 30mm | |||
zui小測(cè)量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
zui小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
測(cè)量速度 | 連續(xù)模式每秒20個(gè)讀數(shù),單值模式下每分鐘70個(gè)讀數(shù) |
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