聯(lián)系人：王存帆
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MiniTest 7400FH 霍爾效應(yīng)MiniTest 7400FH 霍爾效應(yīng)：MiniTest FH7400 FH / MiniTest FH7200 FH測(cè)厚儀膜厚儀使用特別處理的鋼球，鋼球的體積更加，使得測(cè)量的重現(xiàn)性增加到0.5%。鋼珠尺寸1.5mm、2.5mm、4.0mm（FH4），及2.5mm、4mm、6mm、9mm（FH10）。
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Minitest FH7400霍爾效應(yīng)厚度測(cè)厚儀Minitest FH7400霍爾效應(yīng)厚度測(cè)厚儀： 德國(guó)EPK 7400測(cè)厚儀膜厚儀使用一顆小鋼珠和磁性探頭進(jìn)行測(cè)量。7400測(cè)厚儀膜厚儀的探頭放正在被測(cè)材料的一邊，鋼珠放置在另一邊隨探頭移動(dòng)。鋼珠和探頭之間的距離即為材料的厚度。 上海篤摯儀器為您提供此款產(chǎn)品的報(bào)價(jià)，參數(shù)和測(cè)評(píng)，咨詢(xún)。
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德國(guó)Elektrophysik Minitest 1100測(cè)厚儀德國(guó)Elektrophysik Minitest 1100測(cè)厚儀數(shù)據(jù)處理功能； 所有型號(hào)均可配所有探頭； 可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)； 可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。
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ElektroPhysik代理QuintSonic 7超聲波測(cè)厚儀ElektroPhysik代理QuintSonic 7超聲波測(cè)厚儀：測(cè)量面方位對(duì)于測(cè)量沒(méi)有影響，注意技術(shù)數(shù)據(jù)表中所列的Z 小測(cè)量范圍和基體的厚度。 六、在曲面上測(cè)量 測(cè)量圓柱或圓形邊緣時(shí)，可以利用儀器測(cè)嘴上的 V 型口。
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EPK麥考特機(jī)械式測(cè)厚儀G6EPK麥考特機(jī)械式測(cè)厚儀G6：EPK麥考特G6測(cè)厚儀 MIKROTEST S5 0.5－5mm 5％讀值 MIKROTEST S10 2.5－10mm 5％讀值 MIKROTEST S20 7.5－20mm 5％讀值
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